イベント
2024年9月3日
配信日時：2024年9月24日（火）14:00～15:00（60分）
丸文株式会社主催Webセミナーのご案内です。
これまで、皆様にお越しいただく形での開催でありました解析フォーラムを、皆様の自席PCよりご参加いただける、ウェビナー形式に変更し開催いたします。
ご参加可能な人数に限りがございますので、ぜひともお早めにお申し込みください。
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アップデート版ELITEを用いた半導体の解析事例のご紹介
セミナー概要
微細化が進む半導体・電子部品において、故障部位を非破壊で且つ、短時間で特定するELITEの従来の解析手法に加え、新たに付加されたOBIRCH反応検出機能によるダイ回路上の欠陥解析を実機DEMOを交えてご紹介いたします。
こんな方へおすすめ
・微細不良や高密度実装、品質保証/開発部門において非破壊解析をお求めの方
・ICダイ回路上の故障部位特定までの解析時間(TAT)短縮をお求めの方
・解析中の欠陥要素の消失リスク低減に興味のある方
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タイムテーブル
| 時間 |
内容 |
| 13:40～ |
接続テストタイム |
| 14:00～ |
挨拶・案内 |
| 14:05～ |
ELITEの撮影事例紹介および実機DEMO
講師：日本エフイー・アイ株式会社 長友俊信様
丸文株式会社 大槻卓哉 |
| 14:45～ |
質疑応答 |
※当日の都合により時間が前後する可能性があります。
Webセミナー概要
- セミナー名：ロックイン発熱解析装置ELITEプラス セミナー
- 配信日時：2024年9月24日（火）14:00～15:00（60分）
- 費用：無料
- 形式：Webセミナー
※同業他社のご参加はお断りする場合がございます。
※今回よりZoomを利用いたします。
※PC、Mac、iPad、iPhone、Androidデバイスから参加できます。
※対応ブラウザ：Chrome・Edge・Firefox・Safari
セミナーへのご参加、心よりお待ちしております。
ご質問は下記メールアドレスからお気軽にご連絡ください。
主催・運営
丸文株式会社 ELITEセミナー事務局
TEL：03-3639-9823
E-mail：kaiseki@marubun.co.jp
